直觀的、點擊式Windows操作環(huán)境

獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至 0.1fA

用于**半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能

集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡

內(nèi)置PC提供快速的測試設(shè)置、強大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測試結(jié)果的大容量存儲

獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來安排測試，可以執(zhí)行多項測試并提供測試序列與循環(huán)控制功能

內(nèi)置了Stress/Measure，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能，通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規(guī)范的樣品測試

支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備

硬件由 Keithley交互式測試環(huán)境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺集成，是KITE功能的擴充

包括驅(qū)動軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動和手動探針臺

支持先進的半導體模型參數(shù)提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

可靠性測試 — 工藝監(jiān)測 — 質(zhì)保測試
4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)
■ 進行極低頻C-V測量
■ 與同類競爭系統(tǒng)相比能并行測試更多器件
■ 多達12個帶脈沖功能的同步超快I-V通道

4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)：
■ 直流I-V、C-V、脈沖和瞬態(tài)特性分析
■ 實時繪圖和分析
■ 超過400種樣品器件測試庫

硬件
4200-SCS采用了模塊化、可配置、可升級的架構(gòu)。這使得它能
夠準確滿足當前的測量需求，并通過擴展?jié)M足后期的需求。它的9個
儀器插槽可以混合配置4種核心測量模塊。
● 多達9個精密直流源-測量單元能夠提供和測量0.1fA到1A的
電壓，或者1μV到210V的電壓。
● 利用4210-CVU（C-V模塊）可以方便的在1kHz到10MHz測
試頻率下進行交流阻抗測試?？梢詼y量的電容范圍從aF級到μF級。
● 利用4225-PMU超快I-V模塊可以進行脈沖和瞬態(tài)測量。該
模塊具有兩個獨立的電壓源，能夠以1V/ns的步幅調(diào)整電壓，輸出同
時測量電壓和電流。當安裝了多個模塊時，它們內(nèi)部同步的精度小于
3ns。
● 選擇兩種不同的數(shù)字示波器模塊能夠方便而高效地生成數(shù)字
波形

軟件
吉時利交互式測試環(huán)境（KITE）提供了一套完整的圖形用戶界
面，無需編程即可支持幾乎所有類型的特性分析測試。它提供了400
多種標準的特性分析測試，包括MOSFET、BJT晶體管、二極管、電
阻器、電容器、太陽能電池、碳納米管和NVM存儲器，例如Flash、
RRAM、PCRAM等等。